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肖小清; 何小琦; 恩云飞; 周继承;
信息产业部电子第五研究所,广东,广州,510610;
中南大学,湖南,长沙,410083;
可靠性; 有限元; 热循环; 应力/应变; 疲劳寿命模型;
机译:100μm间距倒装芯片组件中SnAgCu焊点可靠性的实验评估
机译:在热冲击测试下采用ENIG表面处理的倒装芯片封装中的焊点可靠性
机译:基于FEM的灵敏度分析估算倒装芯片封装的无铅焊点可靠性
机译:采用原位3D灯幕和有限元模拟倒装芯片焊点中离散空隙形成的研究及有限元模拟
机译:倒装芯片焊点可靠性的研究。
机译:蒙特卡洛射线追踪法对AlGaInP基红色和GaN基蓝/绿倒装芯片微型LED的光提取分析
机译:高温偏移下倒装芯片无铅焊点可靠性的建模
机译:倒装芯片组装和底部填充应力;用aTC4.1装配测试芯片测量并用有限元法分析
机译:确定验证材料的方法,即铝铸造材料,用于有限元模拟的数据集,涉及将非均匀位移场插值到位移场,并通过有限元模拟对位移场进行模拟
机译:倒装芯片型半导体发光器件,倒装芯片型半导体发光器件的制造方法,用于倒装芯片型半导体发光器件的印刷电路板,倒装芯片型半导体发光器件的安装结构,和发光二极管灯
机译:镀金柱法的倒装芯片光电检测器
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