Electromigration; Flip-chip solder joints; Ni under bump metallization;
机译:凸点金属化和SnPb倒装芯片凸点下锡/镍之间的锡诱导铜扩散和金属间化合物形成
机译:铜和镍凸点下金属化共晶SnPb和SnAg倒装焊点中电迁移活化能的测量
机译:Ni / Cu凸块下金属化与共晶SnPb倒装芯片焊料凸点之间的界面反应和相平衡
机译:在凸块金属化下,SNPB倒装芯片焊料凸起凸起凸起凸起凸块
机译:研究无铅倒装芯片焊料凸块中的电迁移行为。
机译:使用超声波传感器检查倒装芯片焊锡凸点的缺陷
机译:凸点金属化和SnPb倒装芯片凸点下镍/铜之间的锡基铜扩散和金属间化合物形成