defects; X-ray diffraction; X-ray topography; growth from vapor; single crystal growth; semiconducting materials;
机译:原位观测Sicry晶体的X射线断层摄影系统的开发
机译:3-D X射线计算机断层摄影技术在PVT批量生长过程中SiC晶体生长界面的原位可视化中的应用
机译:AIN块状单晶在4H-SiC衬底上的生长及其结构质量和生长模式演变的分析
机译:在3DXRD显微镜上原位测量变形的单晶块中的生长的方法
机译:通过升华法生长的块状3C-SiC单晶的研究。
机译:在计算机断层扫描中观察到的4H-SiC块状晶体生长的对比度特征的比较
机译:通过CF-PVT法在4H-SiC上生长的体积<111> 3C-SiC单晶的表征
机译:改进CVD技术制备块状sic晶体的体系