机译:深亚微米技术中的电阻性短路和开路延迟故障测试的多值逻辑映射
机译:深亚微米延迟测试和时序验证的关键路径选择
机译:深亚微米技术中由于工艺缺陷导致的缺陷的案例研究
机译:深度亚微米IC中的延时故障测试和缺陷 - 临界阻力真的意味着什么?
机译:对深亚微米设备中的延迟缺陷和噪声影响进行建模,测试和分析。
机译:在颅盖骨缺损测试临界尺寸:重新审视的临界尺寸缺损的概念(CsD)
机译:用于测试深亚微米定时缺陷的模式选择
机译:使用传统的商业抗蚀剂系统的低缺陷,高分辨率,亚微米电子束光刻