Surface and Microanalysis Science Division, National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg, MD 20899-8370;
机译:通过螺旋钻 - 电子光谱和X射线光电子谱定量测定表面组合物的有效衰减长度
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机译:俄歇电子能谱和X射线光电子能谱的表面灵敏度
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机译:使用X射线光电子能谱,俄歇电子能谱,电子能量损失能谱和低能电子衍射来表征氧化铝的电子和几何结构。
机译:通过俄歇电子能谱和X射线光电子能谱定量测定表面成分的有效衰减长度
机译:通过螺旋钻 - 电子光谱和X射线光电子能谱定量测定表面组合物的有效衰减长度