School of Electronics and Engineering, The University of Edinburgh, Edinburgh, UK EH9 3JL;
机译:节能神经元,突触和STDP集成电路
机译:在时间驱动模拟中,线性整合和防火神经元模型的阈值交叉的故障检测
机译:硅上的磷化铟膜纳米光子集成电路
机译:膜阈值和速率在STDP硅神经元电路仿真中的作用
机译:用于高性能集成电路的硅锗化物基异质结双极晶体管的建模,仿真和设计。
机译:在时间驱动的仿真中线性积分-发射神经元模型的阈值穿越的故障安全检测
机译:仅考虑随机连接的EPSP,神经元电路的阈值与放电现象之间的关系。 -计算机模拟-