Nanjing Electronic Devices Institute Scienceand Technology on Monolithic Integrated Circuits and Modules Laboratory Nanjing 210016 P. R. China;
University of Electronic Science and Technology of China Chengdu Fundamental Science on EHF Laboratory Chengdu 611731 P. R. China;
Indium phosphide; III-V semiconductor materials; DH-HEMTs; Gain; Heterojunction bipolar transistors; Semiconductor device measurement;
机译:采用0.5μmInP双异质结双极晶体管技术的G波段太赫兹单片集成放大器
机译:基于堆叠晶体管的电子带铟磷化铟双异质结双极晶体管单整体微波集成电路功率放大器
机译:利用离子注入与InP异质结双极晶体管单片集成的高速单行进带载光电二极管
机译:0.5-μmINP双异质结双极晶体管技术的300GHz单片集成放大器
机译:基于N沟道InGaAsP-InP的倒置通道技术器件(ICT)的设计,制造和表征,用于光电集成电路(OEIC):双异质结光电开关(DOES),异质结场效应晶体管(HFET),双极倒置沟道场-效应晶体管(BICFET)和双极型反向沟道光电晶体管(BICPT)。
机译:基于硅磁敏晶体管的单片集成二维磁场传感器的制造技术和特性研究
机译:使用InP-GaAsSb-InP双异质结双极晶体管测量磷化铟的电子引发的碰撞电离系数
机译:Inp / Gaassb / Inp双异质结双极晶体管。