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【2h】

Measurement of the electron-initiated impact ionization coefficient of indium phosphide using InP-GaAsSb-InP double heterojunction bipolar transistors

机译:使用InP-GaAsSb-InP双异质结双极晶体管测量磷化铟的电子引发的碰撞电离系数

著录项

  • 作者

    Lam Selena;

  • 作者单位
  • 年度 2004
  • 总页数
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 English
  • 中图分类

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