Nanoelectronic Devices Computational Group (NanoDeCo) College of Engineering Swansea University Bay Campus Fabian Way Swansea SA1 8EN Wales United Kingdom;
Nanoelectronic Devices Computational Group (NanoDeCo) College of Engineering Swansea Univer;
HEMTs; MODFETs; Radio frequency; Gallium nitride; Integrated circuit modeling; Aluminum gallium nitride; Wide band gap semiconductors;
机译:缓冲陷阱相关膝关节罢工和自加热中的影响在Algan / GaN Hemts中
机译:无意识掺杂的GaN缓冲层中陷阱水平对优化的p-GaN栅极AlGaN / GaN HEMT的影响
机译:p-GaN栅极AlGaN / GaN HEMT中无意识掺杂的GaN缓冲层中的陷阱引起的负跨导效应
机译:在GaN Hemts膝盖罢工的缓冲诱捕效果
机译:用于高频应用的氮化铝镓/氮化镓HEMT中的陷获效应:使用大信号网络分析仪和深层光谱学进行建模和表征。
机译:二维电子气上的供体样表面陷阱以及AlGaN / GaN HEMT的电流崩塌
机译:缓冲陷阱相关的膝关节走动和alGaN / GaN HEmT中自加热的影响
机译:考虑陷阱和热效应的GaN / alGaN HEmT E类功率放大器设计。