Freescale Semiconductor, 870 rue Jean Monnet, 38926 Crolles, France;
OPC; RET; lithography; verification;
机译:TCAD物理验证,用于标线增强技术
机译:45nm,65nm,90nm技术中SRAM单元的比较分析
机译:45nm批量生产将于2007年第三季度开始台湾台积电宣布技术路线图:设计技术“向65nm扩展”
机译:65nm和45nm节点的掩盖增强验证
机译:物流效率增强物联网传感器节点的电路和技术
机译:Neoadjuvant化疗后节点病理完全应答预测模型的建立与验证初始节点阳性早期乳腺癌
机译:流水线纳米高速缓存的能量/功率分解(90nm / 65nm / 45nm / 32nm)