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PADC検出器の閾値を記述する新しい物理概念としてのイオントラック内径方向電子フルエンス

机译:离子径向电子注量作为描述PADC检测器阈值的新物理概念

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摘要

ポリアリルジグリコールカーボネート(PADC)は最も感度の高いエッチング型飛跡検出 器として知られており、その検出閾値を統一的に記述するために、限定的エネルギー損失 (REL)や第一次イオン化率(PI)、局所線量分布論等の物理的パラメータが提案されてき た。しカゝし、そのどれもがイオントラックの構造に基づいたものではなく、不十分なパラメ ータであった。我々はPADC中のイオントラックの構造及び形成メカニズムの解明に取り 組んできた[1]。先に実施した28 MeV電子線照射実験にて、ある1つの繰り返し構造を2個 以上の電子が通過したときにのみカーボネートエステル基が失われるという2段階の損傷 形成過程を明らかにした[2]。また、PADCの主鎖を担うCH基のG値が検出閾値の前後で 急激に減少することも確認している。これらの実験結果はある繰り返し構造を通過する電 子の個数がエツチング可能な潜在飛跡の形成に大きな役割を担うことを示している。
机译:聚烯丙基碳酸二甘醇酯(PADC)是最敏感的蚀刻型轨迹检测器,为了统一描述检测阈值,需要限制能量损失(REL)和一次电离率(已经提出了诸如PI)的物理参数和局部剂量分布理论。但是,它们都不基于离子轨道的结构,并且参数不足。我们一直在努力阐明PADC中离子轨道的结构和形成机理[1]。在先前的28 MeV电子束辐照实验中,我们揭示了两步损伤形成过程,其中只有当两个或多个电子通过单个重复结构时,碳酸酯基团才会丢失[2]。 ..我们还证实,作为PADC主链的CH基团的G值在检测阈值前后急剧下降。这些实验结果表明,通过某种重复结构的电子数量在可蚀刻潜迹的形成中起主要作用。

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