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水中でのGe 表面のグラフェンアシストエッチングに関する研究:In situ AFM によるエッチングプロセスの観察

机译:石墨烯辅助蚀刻水中锗表面的研究:原位原子力显微镜蚀刻工艺观察

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摘要

我々は、還元グラフェン(reduced Graphene Oxide: rGO)を援用した水中におけるGe 表面のエッチング手法を開発した[1]。この分野において、貴金属触媒の代替物として、グラフェンを用いて半導体表面のナノ構造を作製することが期待されている。しかし、溶液中での、半導体表面とグラフェンとの界面で生じる反応プロセスは不明なままである。このプロセスを解明するために、本研究ではグラフェンアシストエッチングを行ったGe 表面をIn situ 原子間力顕微鏡で観察した。
机译:我们已经开发出一种通过使用还原石墨烯(rGO)蚀刻水中的Ge表面的方法[1]。在该领域中,期望使用石墨烯作为贵金属催化剂的替代物以在半导体表面上制造纳米结构。但是,尚不清楚溶液中半导体表面与石墨烯之间的界面处发生的反应过程。为了阐明这一过程,在本研究中,我们用原位原子力显微镜观察了石墨烯辅助的刻蚀Ge表面。

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