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半导体基板的表面蚀刻装置、以及使用该表面蚀刻装置制造在表面形成有凹凸形状的半导体基板的方法

摘要

本发明的课题在于提供将与半导体基板产生发热反应的气体用作蚀刻气体,且能应对批量生产的对半导体基板进行蚀刻的装置。本发明的半导体基板的表面蚀刻装置包括:加载互锁真空室;蚀刻室,其能够减压至大气压以下;卸载互锁真空室;输送机构,其用于将收纳有半导体基板的托盘从所述加载互锁真空室经由所述蚀刻室输送到所述卸载互锁真空室为止;以及冷却机构,其冷却所述半导体基板和/或所述托盘,其中,在所述蚀刻室中具有多个喷嘴,该多个喷嘴用于对收纳在所述托盘上的半导体基板表面喷射蚀刻气体。

著录项

  • 公开/公告号CN103140918A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2013-06-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 松下电器产业株式会社;

    申请/专利号CN201280003095.1

  • 发明设计人 新井康司;田边浩;谷口泰士;

    申请日2012-02-22

  • 分类号H01L21/302;H01L21/677;

  • 代理机构北京市柳沈律师事务所;

  • 代理人刘晓迪

  • 地址 日本大阪府

  • 入库时间 2024-02-19 19:46:08

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-01-20

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):H01L21/302 申请公布日:20130605 申请日:20120222

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2013-07-10

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/302 申请日:20120222

    实质审查的生效

  • 2013-06-05

    公开

    公开

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