【24h】

Effect of Hafnium Oxide on ALD Grown ZnO Thin Film Transistor

机译:氧化Ha对ALD生长的ZnO薄膜晶体管的影响

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摘要

The TFTs from ZnO semiconductor with hafnium oxide dielectrics were prepared by atomic layer deposition to characterize the electrical properties. Good electrical properties of oxide TFT was obtained with channel mobility of 2.1 cm~2/Vs, threshold voltage of 0 V, the subthreshold slope of 0.9 V/dec, and on to off current ratio of 10~6.
机译:通过原子层沉积制备具有氧化ha电介质的ZnO半导体TFT,以表征电性能。氧化物TFT具有良好的电学性能,其沟道迁移率为2.1 cm〜2 / Vs,阈值电压为0 V,亚阈值斜率为0.9 V / dec,开/关电流比为10〜6。

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