Tsinghua University, Beijing, 100084, China;
Tsinghua University, Beijing, 100084, China;
University of Notre Dame, IN, 465556, US;
Tsinghua University, Beijing, 100084, China;
Tsinghua University, Beijing, 100084, China;
Tsinghua University, Beijing, 100084, China;
Nonvolatile memory; Logic gates; MOSFET; Switches; Sensors; Random access memory;
机译:具有新兴铁电FET的2T /单元和3T /单元非易失性存储器的设计
机译:具有非驱动单元板线写/读方案的60ns 1Mb非易失铁电存储器
机译:基于SBT的铁电FET用于非易失性无损读出(NDRO)存储器应用
机译:3T /电池实用嵌入式非易失性存储器,用于基于铁电FET的对称读取和写入访问
机译:用于非易失性和动态随机存取存储器的铁电和电极材料的处理和表征
机译:面向高性能非易失性存储器应用的侧面栅极In2O3纳米线铁电FET
机译:透明的柔性,无疲劳,光学读取和非易失性铁电存储器
机译:非易失性存储器垂直环位和写 - 读结构。