Microwave Electronics Laboratory, Department of Microelectronics, Chalmers University of Technology, SE-412 96 Goeteborg, Sweden;
MESFET; semi-insulating substrate;
机译:半绝缘4H碳化硅的X射线光谱
机译:高纯度半绝缘衬底上4H-SiC MESFET的物理模拟和实验结果
机译:高纯度半绝缘衬底上4H-SiC MESFET的物理模拟和实验结果
机译:具有2.8 W / mm rf功率密度的4H碳化硅Mesfet
机译:使用光致发光光谱法研究N型4H碳化硅和半绝缘6H碳化硅中的缺陷。
机译:具有再生欧姆接触的半绝缘Ammono-GaN衬底上的AlGaN / GaN高电子迁移率晶体管
机译:4H-碳化硅金属半导体场效应晶体管(4H-SiC MESFET)的俘获效应的模拟
机译:载流子注入到mEsFET衬底中的影响:mEsFET在半绝缘缓冲器,p衬底上的mEsFET和无衬底mEsFET上的比较