首页> 外文会议>2014 4th IEEE International Workshop on Low Temperature Bonding for 3D Integration >Integration of III#x2013;V materials and Si-CMOS through double layer transfer process
【24h】

Integration of III#x2013;V materials and Si-CMOS through double layer transfer process

机译:通过双层转移工艺将III–V材料和Si-CMOS集成

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摘要

A method to integrate III–V compound semiconductor and SOI-CMOS on Si substrate is demonstrated. The SOI-CMOS layer is temporarily transferred on a Si handle wafer. Another III–V/Si substrate is then bonded to the SOI-CMOS containing handle wafer. Finally, the handle wafer is released to realize the SOI-CMOS on III–V/Si substrate. Through this method, high temperature III–V materials growth can be completed without the presence of the CMOS layer, hence damage to the CMOS layer is avoided.
机译:演示了一种在Si衬底上集成III–V化合物半导体和SOI-CMOS的方法。 SOI-CMOS层暂时转移到Si处理晶圆上。然后将另一个III–V / Si基板粘合到包含SOI-CMOS的处理晶圆上。最后,释放处理晶片以在III–V / Si基板上实现SOI-CMOS。通过这种方法,可以在没有CMOS层的情况下完成高温III–V材料的生长,因此可以避免对CMOS层的损坏。

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