CEA-LETI, Minatec, 17, Avenue des Martyrs, 38054 Grenoble Cedex 9, France;
机译:具有多级单元操作的高可靠性金属氧化物-氮化物-氧化物-半导体类型的NAND闪存的富硅氮化物电荷陷阱层工程
机译:具有氧化物-氮化物-氧化物结构的非易失性存储器件中的电荷陷阱和界面陷阱
机译:多层WS_2薄片作为非易失性存储器中电荷捕获堆栈层的研究
机译:非易失性记忆氮化物电荷捕获层的工程
机译:基于氮化物的局部电荷陷阱非易失性存储器件的阈值电压不稳定性。
机译:以富含Si的SiOX作为电荷陷阱层和铟锡锌氧化物的透明非易失性存储器件的特性
机译:HTO / Al2O3双层封闭氧化物在氮化物 - 陷阱非易失性存储器中的影响