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在沟槽中具有俘获电荷层的非易失性存储器单元和阵列以及其制造方法

摘要

本发明公开了一种存储器单元,所述存储器单元在衬底的表面中包括沟槽。第一和第二间隔开的区(14,16)形成于所述衬底中,其中所述区之间存在沟道区。所述第一区(14)形成于所述沟槽下方。所述沟道区包括沿所述沟槽的侧壁延伸的第一部分(18b)和沿所述衬底的所述表面延伸的第二部分(18a)。所述沟槽中的电荷俘获层(22)与所述沟道区的所述第一部分相邻并且与所述第一部分绝缘,用于控制所述沟道区第一部分的导电。所述沟槽中的导电栅极(20)与所述电荷俘获层相邻并且与所述电荷俘获层和所述第一区绝缘,并且电容性地耦接至所述电荷俘获层。导电控制栅(24)设置在所述沟道区的所述第二部分上方并且与所述第二部分绝缘,用于控制所述第二部分的导电。

著录项

  • 公开/公告号CN104969358B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-10-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 硅存储技术公司;

    申请/专利号CN201480007861.0

  • 发明设计人 N.杜;

    申请日2014-01-16

  • 分类号

  • 代理机构中国专利代理(香港)有限公司;

  • 代理人申屠伟进

  • 地址 美国加利福尼亚州

  • 入库时间 2022-08-23 10:02:17

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-10-17

    授权

    授权

  • 2015-11-11

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 29/792 申请日:20140116

    实质审查的生效

  • 2015-11-11

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 29/792 申请日:20140116

    实质审查的生效

  • 2015-10-07

    公开

    公开

  • 2015-10-07

    公开

    公开

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