XLIM-UMR CNRS n#x00B0;
6172 - 7, rue Jules Vall#x00E8;
s - 19100 Brive La Gaillarde;
机译:从条形SiGe HBT的测量中提取的热阻的验证
机译:SiGe HBT的晶圆上低频噪声测量:技术改进对1 / f噪声的影响
机译:使用S参数测量和一个几何信息提取Si / SiGe HBT小信号等效电路模型参数
机译:SiGe HBT的电热模拟和测量
机译:SiGe HBT和RF CMOS的高频噪声建模和微观噪声仿真。
机译:SiGe HBT局部应力过程中Au / Pt / Ti-Si3N4界面缺陷和反应的STEM纳米分析
机译:基于时域大信号测量构建的SiGe HBT的ANN模型