LAAS-CNRS, Universit#x00E9;
de Toulouse;
UPS, INSA, INP, ISAE;
UT1, UTM, LAAS, Francec;
ICEM modelling; Integrated circuits; accelerated aging; power integrity;
机译:老化对数字集成电路功率完整性和传导发射的影响
机译:基于高频测量的集成电路封装的电路建模和功率/接地完整性评估
机译:NBTI损耗下CMOS数字电路的电流消耗和功率完整性
机译:老化对数字集成电路电力完整性的影响
机译:数字集成电路的低电压-低功率MOS器件的研究
机译:通过抑制光源集成电路的相位偏析通过抑制相位偏分的英寸大小的高质量钙钛矿
机译:时效对数字集成电路电源完整性和传导发射的影响
机译:用氦泄漏检测技术分析集成电路封装完整性