数字集成电路老化故障高精度预测方法仿真

摘要

cqvip:针对传统数字集成电路老化故障预测方法耗时较长、结果误差较大问题,提出一种新的数字集成电路老化故障高精度预测方法。该方法对数字集成电路中存在的信号进行滤波处理,去除噪声信号和冗余信号,分析滤波处理后数字集成电路特征,得到数字集成电路漏电流变化。在此基础上,分析数字集成电路中漏电流变化、阈值电压变化和延迟变化三者之间的关系,进而通过启发式算法完成数字集成电路老化程度的分类,实现数字集成电路老化故障的预测。实验结果表明,所提方法预测效率高、准确率高。