系统级边界扫描测试研究

摘要

基于边界扫描测试技术的故障诊断突破了传统的管脚接触式检测理论和手段,可以解决其他技术无法完成的超大规模集成电路的测试问题,可以解决新型电子装备中含可编程超大规模集成电路器件(CPLD及FPGA)、微处理器乖数字信号处理器(DSP)等器件的电路板的板级测试测试问题,边界扫描测试技术己成为可测试性设计应用最为广泛的技术之一,并形成了一系列的国际标准.随着电子信息技术的快速发展,具有多个独立板卡的电子系统变得越来越普遍,迫切需要一种系统级测试方法.本文在总结目前测试技术发展状况的基础上,对1149.1协议增加寻址能力,采用层次化结构来支持系统级测试,并对边界扫描测试技术及其系统级实现进行了详细的研究和阐述.建议边界扫描控制器直接集成到板卡中完成嵌入式系统边界扫描，实时在线完成系统边界测试，上位机通过常规接口如串口，网口等完成结果的读取。