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应用边界扫描机制实现电子设备系统级测试

         

摘要

文中讨论了应用IEEE1149.1边界扫描机制实现电子设备系统级测试的方法。并就集中测试和分布式测试策略的实施及优缺点进行了具体阐述,为电子设备系统级测试性设计和具体实施提供了指导性的意见。

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