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WU Jun; 吴军;
中国电子学会;
集成电路; 焊点空洞; 产品质量; 可靠性分析;
机译:低温焊接SN-AG-CU / SN-Bi-X混合BGA焊点用于消费电子产品的板级降低性和断裂行为
机译:BGA包装电子芯片焊点的故障分析与建模
机译:用于在印刷电路板(PCB)上焊接的球栅阵列(BGA)中焊点的热机械可靠性的有效焊料
机译:PCB表面焊盘的表面处理和污染对BGA焊点空洞的影响
机译:使用BGA封装的焊点可靠性评估:Megtron 6与FR4印刷电路板的跌落测试
机译:可见光下MnFe2O4 / BGA复合材料有机污染物的有效光催化降解
机译:老化对PB免球栅极(BGA)焊点(BGA)焊点(BGA)焊点中的界面(Cu,Ni)6(Sn,Zn)6(Sn,Zn)5和(Cu,Au,Ni)6sn5金属间金属间金属间金属间金属间化合物的影响
机译:问题分析aOW-III(问题分析aOW-III)
机译:词法确定问题分析器,词法确定问题分析系统,词法确定问题分析方法和程序
机译:角部非关键功能球(NCTF)的关节连接,以提高BGA焊点的可靠性(SJR)
机译:通过局部脉冲热成像法测试BGA焊点
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