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快速侦测OLED面板中TFT的相对Vth

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摘要

提出了一种可以快速侦测OLED面板中TFT相对Vth的方法.该方法通过数次重复侦测动作,不断迭代修正每次侦测条件,可准确获得各TFT之间的相对Vth.据此进行外部补偿,可以在保证像素开口率的前提下,大幅提升面板的均匀性.该方法具有快速,准确,像素电路简单等优点,补偿效果显著.

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来源
《2018中国显示学术会议》|2018年|21-25|共5页
会议地点西安
作者
FU Jianhang; 付舰航; HWANG Jason; 黄泰钧; LIANG Pengfei; 梁鹏飞; ZENG Yuchao; 曾玉超;
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作者单位

中国物理学会;

中国光学光电子行业协会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类 TN873.91;
关键词
OLED显示器; 阈值电压; 侦测时间; 外部补偿; 面板均匀性;

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