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陈永珍;
集成电路;
机译:纳米级HfO_2栅介质膜中氧扩散的测量。
机译:从与温度相关的电流-电压和电容-电压测量中探索氧化镧栅介质膜的俘获特性
机译:SiO_(2)层厚度对通过HfAlO_(x)/ SiO_(2)栅介质膜的泄漏电流中的优势载流子类型的影响
机译:高场应力引起的3.0 nm NO生长栅介质膜中的泄漏电流
机译:取决于Fin形状和TSV以及3D集成电路中背栅噪声耦合的FinFET电性能仿真。
机译:栅电极中电极距离的影响:数值模型和体外测试
机译:模拟集成电路中浮栅缺陷(FGD)的测试设计方法
机译:后栅等离子体和溅射工艺对金属栅CmOs集成电路辐射硬度的影响
机译:覆盖栅介质膜的栅电极和栅介质膜
机译:集成电路测试设备的误差分析仪和故障分析方法
机译:集成电路,用于集成电路的测试器,用于集成电路的测试方法,用于集成电路的测试方法程序以及将带有记录方法的介质记录到集成电路的测试方法中
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