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陈永珍;
中国华晶电子集团公司;
集成电路; 栅介质膜; C-V测试; 误差;
机译:具有高κ栅介电和三材料栅堆叠的纳米级圆柱栅金属氧化物半导体场效应晶体管的阈值分析模型
机译:用于对称双栅架的分析I-V和C-V型号
机译:自动统计高级MOS栅堆叠的C-V和Ⅰ-Ⅴ特性的全量子分析
机译:集成电路签名分析测试中的锯齿误差
机译:具有误差影响的Cox比例风险模型的贝叶斯分析及其在加速寿命测试数据中的应用。
机译:修正跌落测试位置中活动膝关节活动范围的可靠性和测量误差:一项初步研究
机译:一种在GRaNGER和LEE不对称误差修正模型中测试对称性的BOOTsTRap方法
机译:风洞模型态度测量中动态误差的模态修正方法
机译:利用LTPS TFT中的栅-漏和栅-源C-V配置的晶粒边界横向分布的分析装置和方法
机译:分析患者的恶性,从肿瘤细胞培养的疫苗中分离出来的恶性细胞,与肿瘤素质相关的分子的方法的修正方法,测定与肿瘤素质相关的分子变化的方法作为预测疗效的方法治疗,以分析适合治疗的剂量,以监测治疗的有效性,以分析癌症的进展,对患者进行全身活检,并确定患者的变化用于原位肿瘤块中细胞的肿瘤储备细胞。用于分析患者样品中是否存在非造血系统恶性肿瘤的测试套件
机译:集成电路测试设备的误差分析仪和故障分析方法
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