机译:纳米级HfO_2栅介质膜中氧扩散的测量。
IBM T. J, Watson Research Center, Yorktown Heights, New York 10598, USA;
IBM Research @ Albany NanoTech, Albany, New York 12203, USA;
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IBM T. J, Watson Research Center, Yorktown Heights, New York 10598, USA;
机译:原子层沉积的HfO_2栅介电膜中的氧浓度对多晶Si栅晶体管的电子迁移率的影响
机译:Gd和N的结合对HfO_2栅介质膜的能带结构和氧空位的相互作用
机译:Gd_2O_3掺杂HfO_2薄膜中的负氧空位作为高k栅介质的研究
机译:使用扫描非线性介电显微镜的铁电薄膜的纳米尺度域测量
机译:介电薄膜的纳米级电学表征。
机译:具有纳米刻度通道层的极高性能顶栅P型Sno薄膜晶体管
机译:从千分尺到纳米级聚合物薄膜干燥动力学:溶剂扩散,聚合物弛豫和基底相互作用的研究
机译:解释纳米级薄膜硬度测量的定量模型。