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于宗光; 许居衍;
中国电子学会;
半导体材料;
机译:一个类似于SPICE的2T-FLOTOX核心单元模型,用于eFlash中的缺陷注入和行为预测
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机译:FLOTOX EEPROM单元的ONO多晶硅中的电荷陷阱
机译:用于eFlash存储器中缺陷注入和行为预测的2T-FLOTOX核心单元的电气仿真模型
机译:陷阱的产生和在二氧化硅中的降解及其对FLOTOX EEPROM单元的影响。
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机译:16k FLOTOX EEPROM单元的ONO和隧道氧化物的制备与表征
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