个测试矢量.文中进一步提出了一种基于MISR(多输入移位寄'/>
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谢波; 黄维康; 唐璞山;
中国电子学会;
内建自测试; 开路故障; 组合电路;
机译:高效的CMOS组合电路中的开路故障自动测试码型发生器
机译:详尽测试CMOS组合电路中的开路故障
机译:BiCMOS电路的可测试设计,用于使用单个模式进行开路故障检测
机译:CMOS组合逻辑电路中卡塞开路故障的派生鲁棒测试的新方法
机译:具有片上电路的低功耗cmos弛张振荡器设计,用于组合温度补偿的参考电压和电流生成。
机译:具有实际门延迟模型的CMOS组合逻辑电路的准确动态功率估算
机译:智能驱动的测试系统,用于检测CMOS时序电路中的开路故障
机译:CmOs IC卡住开路故障的电气测量。
机译:逻辑电路中的路径晶体管和CMOS电路的组合及其组合方法
机译:逻辑电路中的路径晶体管和CMOS电路组合在一起,并且其组合方法
机译:包括通过晶体管和CMOS电路的组合的逻辑电路以及该逻辑电路的合成方法
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