CMOS电路开路故障可测性设计

摘要

该文在介绍CMOS电路s-open故障产生的原因及测试方法的基础上，讨论了不同的开路故障对晶体管级电路行为的影响，提出了测试这些故障所遇到的问题，同时讨论了可能的解决方法。