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叶波; 郑增钰;
复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室;
BiMOS电路; 故障; 可测性; 集成电路;
机译:针对基于单元的标准CMOS / BiCMOS LSI中内部电路的实用的高闩锁抗扰度设计方法
机译:BiCMOS SiGe:C技术在恶劣条件下对新兴RF和毫米波应用的可靠性分析:可靠性电路设计方法的建议
机译:差分BiCMOS逻辑电路:故障表征和可测试性设计
机译:一种新的闩锁测试结构,用于基于单元的标准CMOS / BiCMOS LSI内部电路的实用设计方法
机译:逻辑电路的可测性设计研究
机译:Si3N4光子电路对宽带片上光学气体感测的设计和仿真研究大约2μm光波长
机译:实用性相关性和设计模块在电路教育中的重要性
机译:门阵列集成电路设计可测性方案的评估与实现。最终报告,1984年2月1日至9月30日
机译:设计电路系统,扩展现有方法以评估电路设计的可行性,执行电路设计的可行性评估,完善电路设计的第一决策规则,形成电路设计的第二决策规则的方法电路设计,用于为多个预先设计的电路块组织设计者的经验数据,提高胶粘逻辑分配效率,并在设计块之间分配胶粘的多个逻辑元素,并分配胶粘逻辑以在集成电路设备设计中执行方案,转换特定于电路块的接口,选择电路收集器,设计一种包含使能设备测试以验证a正确操作的设备,并开发行为测试台,项圈接口和接口系统
机译:基于节点可测性和物理设计数据识别集成电路设计的测试覆盖差距
机译:在CMOS和BICMOS电路设计中用于控制电流和电容之间关系的环形电路及相关方法
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