基于BIST的动态可重构FPGA的延时故障测试方法

摘要

FPGA市场已经进入极速发展时代，不同的销售商已向市场投入更多更快的FPGA器件。本文重点介绍了动态重构FPGA及其基本结构、特点；在此基础上本文探讨了基于BIST技术的FPGA延时故障测试方法，并成功应用于Lanice ORCA2C系列FPGA中。实验证明，该BIST方法是可行且有效的，并且不需要昂贵的ATE设备。