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第一章 绪论
1.1 可编程逻辑器件的发展
1.2 国内外FPGA测试研究现状
1.3 课题提出的背景及意义
1.4 本文的主要工作
第二章 动态可重构FPGA结构的研究
2.1 动态可重构FPGA的定义
2.2 动态可重构FPGA功能结构
2.3 动态可重构FPGA互连结构
2.4 动态可重构FPGA器件分类
2.5 本章小结
第三章 大规模集成电路相关测试技术的研究
3.1 集成电路测试的基本概念
3.2 集成电路测试的分类
3.3 可测性设计
3.3.1 内部扫描设计
3.3.2 边界扫描设计
3.3.3 内建自测试技术
3.4 本章小结
第四章 时延故障及时延测试
4.1 时延测试问题
4.2 时延故障模型
4.3 几种延时测试方法
4.3.1 慢时钟组合测试
4.3.2 增强扫描测试
4.3.2 正常扫描测试
4.3 时延测试中的实际考虑
4.4 本章小结
第五章 基于BIST的FPGA时延故障测试方法
5.1 时延故障BIST测试
5.1.1 时延故障BIST测试思想
5.1.2 时延故障BIST测试电路
5.1.3 测试电路的扩展应用
5.1.4 测试电路的综合及后仿
5.2 时延故障测试板级调试
5.2.1 实验方法
5.2.2 实验结果
5.2.3 实验条件及注意事项
5.2.4 实验改进方向
5.3 本章小结
第六章 结束语
致谢
参考文献
研究成果