基于BIST的动态可重构FPGA的时延故障测试方法

摘要

FPGA市场已经进入极速发展时代,不同的销售商已向市场投入更多更快的FPGA器件.随着FPGA器件的迅速发展,FP-GA的密度和复杂程度也越来越高,使大量的故障难以使用传统方法进行测试.因此,对FPGA器件的故障测试和故障诊断方法进行更全面的研究具有重要意义.为此重点研究了动态重构FPGA及其基本结构、特点;在此基础上探讨了基于BIST技术的FPGA时延故障测试方法,并成功应用于Lattice ORCA 2C系列FPGA中.实验证明,该BIST方法是可行且有效的,并且不需要昂贵的ATE设备.