首页> 中文会议>第十五届全国分子光谱学学术会议 >氮化硼薄膜退火诱导相变的红外光谱研究

氮化硼薄膜退火诱导相变的红外光谱研究

摘要

本研究利用射频溅射法在Si(100)衬底上制备了纯六方相(h-BN)和以正交相(E-BN)为主相的两组氮化硼薄膜,对其进行600~1000℃的N2保护退火,通过傅里叶变换红外谱(FTIR)分析,发现hBN-cBN-hBN的可逆相变。h-BN向立方氮化硼(c-BN)的最佳退火诱导相变温度为900℃,在此温度下,制备出了立方相含量接近100%的氮化硼薄膜,并且对相变路径与机理进行了探索性的讨论。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号