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ETCH-LESS ALGAN GAN TRIGATE TRANSISTOR

机译:较少的AlGaN GaN晶体管

摘要

Devices and methods of a field effect transistor device that include a source, a gate and a drain. The transistor includes a semiconductor region position is under the source, the gate and the drain. Such that the semiconductor region can include a gallium nitride (GaN) layer and an III Nitride (III-N) layer. Wherein the GaN layer includes a band gap, and the III-N layer includes a band gap. Such that the III-N layer band gap is higher than the GaN layer band gap. A sub-region of the semiconductor region is located underneath the gate and is doped with Mg ions at selective locations in the sub-region.
机译:场效应晶体管装置的装置和方法包括源极,栅极和漏极。 晶体管包括半导体区域位置位于源极,栅极和漏极下方。 使得半导体区域可包括氮化镓(GaN)层和III族氮化物(III-N)层。 其中GaN层包括带隙,并且III-n层包括带隙。 这样的III-N层隙率高于GaN层带隙。 半导体区域的子区域位于栅极下方并且在子区域中的选择位置掺杂有Mg离子。

著录项

  • 公开/公告号WO2021192727A1

    专利类型

  • 公开/公告日2021-09-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 MITSUBISHI ELECTRIC CORPORATION;

    申请/专利号WO2021JP05580

  • 发明设计人 TEO KOON HOO;CHOWDHURY NADIM;

    申请日2021-02-09

  • 分类号H01L29/778;H01L21/337;H01L29/10;H01L21/265;H01L29/20;

  • 国家 JP

  • 入库时间 2022-08-24 21:24:50

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