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NONVOLATILE SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE WHICH PERFORMS IMPROVED ERASE OPERATION

机译:非易失性半导体存储器件,其执行改进的擦除操作

摘要

According to one embodiment, a nonvolatile semiconductor memory device includes a memory cell array and a control unit. The memory cell array includes a plurality of memory cells arranged in a matrix. The control unit erases data of the memory cells. The control unit interrupts the erase operation of the memory cells and holds an erase condition before the interrupt in accordance with a first command during the erase operation, and resumes the erase operation based on the held erase condition in accordance with a second command.
机译:根据一个实施例,非易失性半导体存储器件包括存储单元阵列和控制单元。 存储器单元阵列包括以矩阵排列的多个存储器单元。 控制单元擦除存储器单元的数据。 控制单元中断存储器单元的擦除操作,并根据擦除操作期间的第一命令在中断之前保持擦除条件,并根据第二命令基于保持擦除条件恢复擦除操作。

著录项

  • 公开/公告号US2021304821A1

    专利类型

  • 公开/公告日2021-09-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 TOSHIBA MEMORY CORPORATION;

    申请/专利号US202117344146

  • 发明设计人 JUN NAKAI;NOBORU SHIBATA;

    申请日2021-06-10

  • 分类号G11C16/16;G11C16/14;G11C16/34;G11C16/26;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-24 21:21:49

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