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WAFER TO WAFER BONDING APPARATUS, WAFER TO WAFER BONDING SYSTEM, AND WAFER TO WAFER BONDING METHOD

机译:将晶片到晶片键合装置,晶片到晶片键合系统,以及晶片到晶片键合方法

摘要

The wafer bonding apparatus has a first surface and includes a lower stage for adsorbing a first wafer disposed on the first surface, a second surface facing the first surface, and a second surface disposed on the second surface. 2 An upper stage for adsorbing a wafer, an upper push rod for lifting and lowering through a central hole formed in the central region of the upper stage to press the central region of the second wafer, and a second surface of the upper stage And a heat generating device including a plurality of heat generating elements for heating the second wafer, and independently controlling the calorific values of the heat generating elements so that the temperature distribution of the second wafer has different distributions in an azimuth direction with respect to the center. Includes.
机译:晶片键合装置具有第一表面并且包括用于吸附设置在第一表面上的第一晶片的下部级,面向第一表面的第二表面,以及设置在第二表面上的第二表面。 2用于吸附晶片的上级,上推杆用于升高和降低在上级的中心区域中形成的中心孔,以按压第二晶片的中心区域,以及上级的第二表面包括用于加热第二晶片的多个发热元件的发热装置,并且独立地控制发热元件的热​​值,使得第二晶片的温度分布在相对于中心的方位角方向上具有不同的分布。包括。

著录项

  • 公开/公告号KR20210057260A

    专利类型

  • 公开/公告日2021-05-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 삼성전자주식회사;

    申请/专利号KR1020190143486

  • 发明设计人 임경빈;김준형;우시웅;석승대;

    申请日2019-11-11

  • 分类号H01L21/18;H01L21/324;H01L21/687;H01L23;H01L33;

  • 国家 KR

  • 入库时间 2022-08-24 18:58:54

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