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FIELD EFFECT TRANSISTOR (FET) COMPRISING CHANNELS WITH SILICON GERMANIUM (SiGe)

机译:局部效应晶体管(FET)包括具有硅锗(SiGe)的通道(SiGe)

摘要

A device comprising a substrate and a first transistor formed over the substrate. The first transistor includes a first source disposed over the substrate, a first drain disposed over the substrate, a first plurality of channels coupled to the first source and the first drain, and a first gate surrounding the first plurality of channels. The first plurality of channels is located between the first source and the first drain. At least one channel includes silicon germanium (SiGe). The transistor is a field effect transistor (FET). The transistor is a gate all around (GAA) FET. The transistor may be configured to operate as a negative channel metal oxide semiconductor (NMOS) transistor. The transistor may be configured to operate as a positive channel metal oxide semiconductor (PMOS) transistor.
机译:包括基板的装置和形成在基板上的第一晶体管。第一晶体管包括设置在基板上的第一源极,设置在基板上的第一漏极,耦合到第一源极和第一漏极的第一多个通道,以及围绕第一多个通道的第一栅极。第一多个通道位于第一源极和第一漏极之间。至少一个通道包括硅锗(SiGe)。晶体管是场效应晶体管(FET)。晶体管是周围(Gaa)FET的栅极。晶体管可以被配置为作为负通道金属氧化物半导体(NMOS)晶体管操作。晶体管可以被配置为作为正极通道金属氧化物半导体(PMOS)晶体管操作。

著录项

  • 公开/公告号WO2021076241A1

    专利类型

  • 公开/公告日2021-04-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 QUALCOMM INCORPORATED;

    申请/专利号WO2020US48873

  • 申请日2020-09-01

  • 分类号H01L29/06;B82Y10;H01L21/8238;H01L27/092;H01L29/16;H01L29/423;H01L29/49;H01L29/51;H01L29/66;H01L29/775;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-24 18:22:10

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