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首页> 外国专利> A device for measuring charged and neutral elementary particles as well as the intensity of gamma - and x-rays.

A device for measuring charged and neutral elementary particles as well as the intensity of gamma - and x-rays.

机译：一种用于测量带电和中性基本粒子以及伽玛射线和X射线强度的设备。

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摘要

机译：

著录项

  • 公开/公告号DE1718253U

    专利类型

  • 公开/公告日1956-03-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 DIEBNER KURT DR DE;

    申请/专利号DE1955D010225U

  • 发明设计人 DIEBNER KURT DR DE;

    申请日1955-04-20

  • 分类号

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-23 22:59:01

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