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DEVICE FOR MEASURING ELECTRON-BEAM INTENSITIES AND FOR SUBJECTING MATERIALS TO ELECTRON IRRADIATION IN AN ELECTRON MICROSCOPE

机译：电子显微镜中电子束强度的测量和材料的辐照装置

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机译：

著录项

  • 公开/公告号US3446960A

    专利类型

  • 公开/公告日1969-05-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 NASA USA;

    申请/专利号USD3446960

  • 发明设计人 ALFRED G. EUBANKS;THOMAS P. SCIACCA;

    申请日1965-08-30

  • 分类号H01J37/26;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-23 11:42:26

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