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机译:用于X射线衍射仪的植物样品台
公开/公告号SU458746A1
专利类型
公开/公告日1975-01-30
原文格式PDF
申请/专利权人 ИНСТИТУТ МЕТАЛЛОФИЗИКИ АН УКРАИНСКОЙ ССР;
申请/专利号SU19721757669
发明设计人 ТАРНАВСКИЙ АНТОН ИВАНОВИЧ;КОНОНЕНКО ВЛАДИСЛАВ АНДРЕЕВИЧ;ЭПИК ОЛЬГА ПАВЛОВНА;
申请日1972-03-13
分类号G01N23/20;
国家 SU
入库时间 2022-08-23 04:12:58
机译: 荧光X射线分析仪包括X射线源,用于容纳样品的台,用于检测由样品产生的二次X射线的检测器以及准直仪。
机译: 薄膜样品X射线检查装置,其包括用于控制样品台位置的图案识别系统
机译: X射线检查系统的测试样品表