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Photometer microscope for microphotometer scanning of fine specimen structures

机译:光度计显微镜,用于精细样品结构的微光度计扫描

摘要

A positive and negative lens of equal power can provide the means to scan small objects being observed through a microscope if one of the lenses can be selectively decentered. The arrangement is particularly useful for microscopes having photometers that are used to analyze very small specimens, such as chromosomes, by scanning.
机译:如果其中一个透镜可以有选择地偏心,则同等放大率的正负透镜可以提供扫描通过显微镜观察到的小物体的方法。该布置对于具有光度计的显微镜特别有用,该光度计用于通过扫描来分析非常小的样本,例如染色体。

著录项

  • 公开/公告号US4218112A

    专利类型

  • 公开/公告日1980-08-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 C REICHERT OPTISCHE WERKE AG;

    申请/专利号US19780921633

  • 发明设计人 OTTO RUKER;

    申请日1978-07-03

  • 分类号G02B21/00;

  • 国家 US

  • 入库时间 2022-08-22 17:02:22

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