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PHOTOMETER MICROSCOPE FOR MICROPHOTOMETER SCANNING OF FINE SPECIMEN STRUCTURES

机译:光度计显微镜用于精细试样结构的光度计扫描

摘要

PHOTOMETER MICROSCOPE FOR MICROPHOTOMETERSCANNING OF FINE SPECIMEN STUCTURESABSTRACT OF THE DISCLOSUREThe specification describes a scanning system for amicroscope. The system comprises a pair of lenses on an opticalaxis, each of the pair having equal and opposite power. Oneof the lenses is movable in a plane normal to the optical axis.
机译:分光光度计精细样本结构的扫描披露摘要该规范描述了用于显微镜。该系统在光学上包括一对镜片轴对,每个对具有相同且相反的功率。一透镜的一个在垂直于光轴的平面内可移动。

著录项

  • 公开/公告号CA1108447A

    专利类型

  • 公开/公告日1981-09-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 REICHERT (C.) OPTISCHE WERKE AG;

    申请/专利号CA19780306322

  • 发明设计人 RUKER OTTO;

    申请日1978-06-27

  • 分类号G01J1/04;

  • 国家 CA

  • 入库时间 2022-08-22 15:44:23

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