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扫描近场声显微镜用于光盘表面薄膜结构的研究

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本文介绍了一种将超声检测技术与扫描探针显微技术相结合的扫描近场声显微镜(SNAM),并利用该装置对CD-R光盘表面薄膜进行了检测,得到了其平整印刷面的SNAM图像,与原子力显微镜(AFM)测得的凹槽数据面形貌吻合.文中介绍了这种SNAM的结构、基本工作原理和检测方法,并给出了具体的实验结果.

著录项

来源
《第九届全国扫面隧道显微学学术会议》|2006年|313-315|共3页
会议地点大连
作者
徐平; 蔡微; 余威; 钱建强; 姚骏恩;
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作者单位

中国物理学会;

电子显微学报编辑部;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类显微镜;特种结构材料;
关键词
超声检测技术; 扫描探针显微技术; 扫描近场声显微镜; CD-R光盘膜;
入库时间 2022-08-17 10:31:23

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