本发明考虑了具有互补半导体元件的半导体装置。 P>
根据本发明,它包括P 16型和N 15型的单晶半导体材料;多晶半导体层12围绕它们来定义主要的主要计划和岛屿的主要计划,层12支持隔离状态下的半导体岛;相应岛屿的横向和下部表面与多晶层之间的绝缘层18、19; P型和N型的高纯度杂质层22、21在绝缘层附近的相应岛的一部分中,每个岛都有倾斜的侧面,其角度由晶体结构决定;岛上形成的补充特征的半导体元素和半导体元素。本发明尤其适用于晶闸管或晶体管的形成。 P>
公开/公告号FR2465316A1
专利类型
公开/公告日1981-03-20
原文格式PDF
申请/专利号FR19800019757
申请日1980-09-12
分类号H01L27/04;H01L21/76;H01L29/68;
国家 FR
入库时间 2022-08-22 15:03:30