在将氧化膜设置为脱氧处理腔室2的气体膜上加装气体基质的过程,将分子束内的分子束进行辐照处理,然后在预处理腔室3的热处理中加热基质。从基体上成膜,并在基体上通过分子束进行分子处理,并在基体上生长含磷化合物的半导体层,该分子在生长室4中连接至预处理室,上述分子束可以原样存在。 P>
在制造发光半导体中的应用。 P>
公开/公告号FR2579824A1
专利类型
公开/公告日1986-10-03
原文格式PDF
申请/专利号FR19860004353
发明设计人 HAYAKAWA TOSHIRO;TOSHIRO HAYAKAWA TAKAHIRO SUYAMA ET KOHSEI TAKAHASHI;SUYAMA TAKAHIRO;TAKAHASHI KOHSEI;
申请日1986-03-26
分类号H01L21/203;
国家 FR
入库时间 2022-08-22 07:31:04