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机译:测量设备,尤其是用于RAM静态内存可靠性的半自动调查
公开/公告号PL267987A1
专利类型
公开/公告日1989-04-03
原文格式PDF
申请/专利权人
申请/专利号PL19870267987
发明设计人
申请日1987-09-30
分类号G11C;
国家 PL
入库时间 2022-08-22 06:38:17
机译: 半自动测试固定式RAM存储器特别是其可靠性的测量装置
机译: 静态RAM类型存储设备,即无端口静态RAM存储设备,具有控制单元,该控制单元将控制信号传递到附加单元的晶体管的栅极,以将存储单元置于读取模式,而将附加单元置于写入模式,或者相反
机译: 包含适于执行自检的静态ram存储器的存储设备,以及包含诸如嵌入式静态ram存储器的设备的集成电路