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MEASURING DEVICE,ESPECIALLY FOR SEMIAUTOMATIC INVESTIGATION OF RAM STATIC MEMORY RELIABILITY

机译:测量设备,尤其是用于RAM静态内存可靠性的半自动调查

摘要

机译:

著录项

  • 公开/公告号PL267987A1

    专利类型

  • 公开/公告日1989-04-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人

    申请/专利号PL19870267987

  • 发明设计人

    申请日1987-09-30

  • 分类号G11C;

  • 国家 PL

  • 入库时间 2022-08-22 06:38:17

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